仪器名称

型号

主要参数

WAYNE KERR LCR METER数字电桥

4237

1.测量频率:20HZ~1MHZ；
2.驱动电压10mV-2V；
3.测试参数: Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc

晶体管特性仪

WQ4832

1.Ｙ轴偏转因数:
（IC）0.5μA/div—1A/div分２０档 误差不超过±３％
（IR）50nA/div—1μA/div分５档 误差不超过±１５％
2.Ｘ轴偏转因数:
（VC）10mV/div—50V/div分12档 误差不超过±10%
（VD）500V/div误差不超过±10%

晶体阻抗计

CZ-8C

/

POE测试仪（sifos）

PSA300

/

电解电容漏电流测试仪

YD2610

1.测试电压:0 - 500V一档连续可调，误差 ±1%±2个字。
2.漏电流测试范围:0.01µA-3µA、3µA-3mA、3mA-25mA，三档自动切换 。
3.最大充电电流 ≥200mA， 最大测试电流≦25mA
4.充电时间:范围0–99S，精度±1%
5.放电时间:范围0–9S，精度±1%

光功率计

JW3211C

1.波长范围:800~1700nm；
2.探头类型:INGAAS；
3.功率测量范围:-50~+10 dbm；
4.标准波长:850,1300,1310,1490,1550nm

光功率计

JW3208C

1.波长范围:800~1600nm；
2.探头类型:InGaAs；
3.功率测量范围:-50~+26 dbm；
4.标准波长:850/980/1300/1310/1490/1550nm

光衰减器

JW3303

1.可衰减波长范围:1260nm~1650nm；
2.光纤类型:9/125um单模光纤；
3.接头类型:FC/PC；
4.校准波长:1310/1490/1550/1625nm；
5.衰减范围:2.5~60db；

光衰减器

SGS-IB

1.工作波长:850nm；
2.插入损耗:≤2db；
3.衰减范围:0~60db；
4.显示分辨率:0.25db（0~20db），0.5db（20~60db）
5.精度:≤±0.2（0~20db），≤±0.3（20~30db），≤±0.5（30~60db）

声级计

HS5661A

1.传声器:Ф12.7mm（1/2″）测试电容传声器
2.频率计权:A计权、C计权
3.时间计权:快（F）、慢（S）
4.检波器特性:真有效值、峰值因数≥10
5.仪器精度:符合IEC61672或GB3785 1型

项目

描述

元器件性能测试

电阻

元器件性能测试

电容

元器件性能测试

电感

元器件性能测试

晶振

元器件性能测试

二极管、发光二极管

元器件性能测试

继电器

元器件性能测试

变压器

元器件性能测试

光模块

元器件性能测试

DDR

元器件性能测试

风扇

元器件性能测试

散热片

元器件性能测试

芯片